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            LNP系列高低溫探針臺

            簡(jiǎn)要描述:LNP系列高低溫探針臺為小尺寸樣品測量電特性提供高精度可控測量環(huán)境 實(shí)現精準可靠的測試與測量分析

            • 產(chǎn)品型號:LNP-3
            • 廠(chǎng)商性質(zhì):代理商
            • 更新時(shí)間:2024-05-31
            • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:123

            詳細介紹

            LNP系列高低溫探針臺為小尺寸樣品測量電特性提供高精度可控測量環(huán)境。

            應用方向:
             探針臺可實(shí)現精準可靠的測試與測量分析,幫助精準測量
            和分析判斷晶圓器件的性能,包括提供材料/器件的IV/CV特
            性測試、LD/LED/PD的光強/波長(cháng)測試,射頻特性器件失效分
            析,芯片內部線(xiàn)路/電極/PAD測試等技術(shù)解決方案

            LNP系列高低溫探針臺

             探針臺是一種測試設備,用于測試電子元器件、電路板或系統的性能和功能。探針臺通常包括一個(gè)平臺,上面裝有用于連接和測試待測試物品的探針。通過(guò)探針臺,可以快速、準確地檢測出待測試物品的各種參數和功能,幫助提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。在電子制造和測試領(lǐng)域,探針臺被廣泛應用。

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