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            • SM120立式反射率測試儀

              全自動(dòng)八度角積分式立式反射率測試儀SM120,應用在電池片制絨工序監控環(huán)節,為客戶(hù)電池片質(zhì)量品質(zhì)把控,降低損耗提供了有效的檢測方案。

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              廠(chǎng)商性質(zhì):代理商
              更新日期:2024-05-17
            • SM280自動(dòng)顯微薄膜厚度測繪儀

              SM280自動(dòng)顯微薄膜厚度測繪儀采用顯微系統,可以進(jìn)一步縮小光斑大小,從而實(shí)現非常優(yōu)秀的空間分辨率。同時(shí),SM280采用一體化設計,核心器件采用高分辨率、高靈敏度光譜儀和高精度的3軸移動(dòng)平臺。

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              更新日期:2024-05-17
            • SM230自動(dòng)光學(xué)薄膜厚度掃描測繪儀

              SM230是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研制而成的自動(dòng)光學(xué)薄膜厚度掃描測繪儀,由測繪主機、測繪平臺、Y型光纖及上位機軟件搭建而成,核心器件采用高分辨率、高靈敏度光譜儀和高精度的旋轉平臺,

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              產(chǎn)品價(jià)格:面議
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              更新日期:2024-05-17
            • SM200系列光學(xué)薄膜厚度測量?jì)x

              SM200系列光學(xué)薄膜厚度測量?jì)x是一款利用利用薄膜反射光干涉原理研制而成的自動(dòng)薄膜厚度測繪儀,由測繪主機、測繪平臺、Y型光纖及上位機軟件搭建而成,核心器件采用高分辨率、高靈敏度光譜儀結合算法技術(shù)。

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              更新日期:2024-05-17
            • FR-Scanner掃描型薄膜在線(xiàn)測厚儀

              品牌:希臘ThetaMetrisis 名詞:膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量?jì)x 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會(huì )非常靈敏地導致干涉條紋的移動(dòng),而某一束相干光的光程變化是由它所通過(guò)的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起,所以通過(guò)干涉條紋的移動(dòng)變化可測量幾何長(cháng)度或折射率的微小改變量,從而測得與此有關(guān)的其他物理量。

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              產(chǎn)品價(jià)格:面議
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              更新日期:2024-05-16
            • FR-pRo基礎型膜厚儀(紫外/近紅外-高分辨率)

              品牌:希臘ThetaMetrisis 名詞:膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量?jì)x 干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關(guān)物理量的光學(xué)儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會(huì )非常靈敏地導致干涉條紋的移動(dòng),而某一束相干光的光程變化是由它所通過(guò)的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起,所以通過(guò)干涉條紋的移動(dòng)變化可測量幾何長(cháng)度或折射率的微小改變量,從而測得與此有關(guān)的其他物理量。

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              更新日期:2024-05-16
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